非接触三次元表面形状測定装置
レーザーフォーカス三次元形状測定システム μ Scan-AF2000

高速オートフォーカス機構を採用した高速三次元形状測定装置で、非接触の粗さ測定に最適


特 徴
▲ 10KHzの高速応答性
▲ 1.5μmの微小スポット
▲ 25nmの高分解能で、広いダイナミックレンジ

μScan-AF2000

原 理

レーザーダイオードから照射された光は対物レンズを通り測定面に1.5μmのスポットで集光されます。測定面から反射された光は4分割ディテクターに照射され、対物レンズ制御回路によってフォーカス位置を検出し、その位置に対物レンズを駆動させます。そのフォーカスされた時の対物レンズの位置をデジタルスケールで読み取りZ軸の高さ情報を高速に得ることができます。このZ値と精密に制御されたXYステージ位置情報によって3次元形状を測定します。

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解説図
仕 様
測定方式
レーザーオートフォーカス方式
測定レンジ
X=100mm、Y=100mm、Z=1.5mm(長ストロークのX/Yステージも対応可能)
Z分解能
25nm
スタンドオフ
2mm/5mm
応答性
10KHz